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應力偏光儀 最佳產品守門員

殘留應力除了會影響塑膠件尺寸精度與多材料件組裝性要求,同時,環境變異所產生的潛在應力破壞、蠕變性破壞、疲勞性破壞等,也會因為殘留應力存在而加速此問題的產生。此外,殘留應力更會造成光學特性的改變,對於後續加工,例如塗佈、電鍍等製程都會造成嚴重影響。

現在,透過科盛科技獨家專利的穿透式應力偏光儀,將協助您簡易快速檢測塑件內部殘留應力,進一步了解應力分佈與成因,即早找出合適的解決方法,優化您的產品設計。此穿透式應力偏光儀為一種非破壞性定性觀測方法,利用塑膠受應力作用下之光彈特性,來觀測材料的雙折射率變化情形。只要將塑膠透明件產品或試片置於兩片正片之偏光塑膠片中,藉由塑膠雙折射現象及光彈特性而使白色光源經偏光片後通過形成彩色明暗條紋,由所顯示之條紋形式及色彩,可以對應到觀測塑膠件內部的殘留應力大小。

條紋密度越高的部份,即為塑膠件殘留應力較高之區域

應力偏光儀能快速檢測塑件殘留應力分佈,協助解決因應力所衍生的相關問題,並提高產品品質與競爭力的最佳幫手。

  • 非破壞性穿透式偏光技術
  • 直接觀察塑膠產品殘留應力分佈
  • 背光式光源模組適用於各式透明塑件
  • 手提式設計,重量輕盈,攜帶方便

應力偏光儀規格

  • 電壓 : 100 V ~ 240 V
  • 尺寸 : 420(L)x350(W)x75(H)mm
  • 重量 : 4.5kg(淨重)

 

應力偏光儀,為科盛科技股份有限公司獲中華民國專利(新型第M258283號)之專業觀測裝置。

資料來源 : 塑膠殘留應力之問題解析與簡單檢測應用(科盛科技劉文斌、蔡銘宏,清華大學張榮語教授)

 


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